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免费会议资料

  • 时间:2011-09-27 11:14:20
  • 来源:图书馆
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近日AIP出版社宣布,经与美国国家标准技术研究院(National Institute of Standards and Technology, NIST)达成的一项协议,半导体领域的重要国际会议——国际纳电子表征与测量前沿会议(International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for NanoelectronicsFCMN)的会议录可免费在线访问。其会议录由NISTAIP共同出版。该会议前身为Characterization and Metrology for ULSI Technology
这一系列的会议录的访问方式有:

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